Armiani T, Sari DN, Fathiyah AP, Lestari RD, Karison M. Pemodelan Klasifikasi Tingkat Kerusakan Peralatan Penunjang Akademik Berbasis Natural Language Processing dan Naïve Bayes. JMP [Internet]. 2026Oct.14 [cited 2026Oct.17];15(3):3172-81. Available from: https://jurnal.polgan.ac.id/index.php/jmp/article/view/16853